禾苗分析專注于XRF的研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)，提供各類ROHS儀、ROHS測(cè)試儀、光譜儀x2034d9n，品類齊全、技術(shù)領(lǐng)先、性價(jià)比高，目前公司已在國(guó)內(nèi)核心城市設(shè)立常駐銷售與服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)。詳情請(qǐng)咨詢張先生18319999072。

   詳細(xì)說(shuō)明：膜厚測(cè)試儀校準(zhǔn)方法 膜厚測(cè)試儀校準(zhǔn)方法 1儀器校零 1．1將測(cè)量探頭壓在鐵基上（或不帶涂層的測(cè)量體上），滄州歐譜再輕按一下校零鍵ZERO進(jìn)行校零。在按ZERO鍵時(shí)，測(cè)量探頭在鐵基上不要晃動(dòng)。同時(shí)要注意，只有在按完ZERO鍵后，才能提起探頭，否則，校零不正確。 1．2將測(cè)量探頭提起（或不帶涂層的測(cè)量體上），觀察鐵基上的測(cè)量值，若測(cè)量值在0附近，說(shuō)明校零成功，否則，應(yīng)得新校零。 2儀器校滿度 2．1根據(jù)要測(cè)量的涂層厚度，選擇 適當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)膜片，進(jìn)行滿度校準(zhǔn)。 2．2先將標(biāo)準(zhǔn)膜片放在鐵基上（或不帶涂層的測(cè)量體上）。 C2．3再將測(cè)量探頭壓在標(biāo)準(zhǔn)膜片上，測(cè)量值就顯示在顯示器上，若測(cè)量值與標(biāo)準(zhǔn)膜片不同，測(cè)量值可通過(guò)加1鍵或減1鍵來(lái)修正。修正時(shí)，測(cè)量探頭一定提起，否則，按加1鍵或減1鍵無(wú)效。 2．4為保證校滿度的準(zhǔn)確性，可通過(guò)多次測(cè)同一標(biāo)準(zhǔn)膜片來(lái)驗(yàn)證。 產(chǎn)品名稱：RoHS檢測(cè)； 品牌商標(biāo)：禾苗HELEEX； 熱銷區(qū)域：全國(guó)； 價(jià)格：25；

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